银飞电子祝贺国产SMU精密源测量新品登场：从实验室到产线，半导体测试又多一把“国产好枪”

新品落地，银飞第一时间送上祝福
最近，普源精电（RIGOL）对外披露，DSU2000系列台式精密源测量单元和SUP5000系列PXIe源测量系统即将正式亮相。作为一家资深的深圳仪器仪表企业，我们银飞电子闻讯后马上表达了祝贺。银飞方面直言：“国产仪器又添硬核新品，我们打心底里高兴。这两款源测量产品补上了半导体测试链条上的重要缺口，客户以后选型更有底气了。”

台式“源表”虽小，却足够精悍
先看DSU2000系列台式SMU。它在一个机身内提供最多两个通道，支持四象限输出和测量，每个通道能稳定输出40瓦功率，电压电流范围覆盖到±220伏/±1.1安。更让工程师觉得顺手的是，它能给出最小50微秒脉宽、最大3安的电流脉冲。不管是对功率器件做I-V特性扫描、击穿电压测试，还是用来驱动激光器、测太阳能电池，这台机器都能一次搞定。银飞的技术同事评价：“实验室里一台设备就能完成拉偏、耐压这些活，省去了来回接线换表的麻烦，特别对半导体器件表征和光电测试很友好。”

高密度PXIe系统，瞄准量产测试的“多面手”
SUP5000系列则把目光放在了产线上。它采用单块PXIe板卡集成24个通道的设计，一个机箱最多可扩展到384个通道，密度相当可观。这种“一个箱子装下几百通道”的思路，恰好对准了半导体量产测试中多工位、快节拍的需求。以往可能需要摞上好几台仪器才能铺开的通道数，现在一个机箱就基本能扛住，既省空间也简化了自动化系统的搭建。银飞电子认为，对那些想搭建定制化测试产线的客户来说，SUP5000这种高集成度方案，能实实在在提升部署效率。

从研发验证到量产，一条链路的测试都能撑起来
两款新品合在一起，把半导体测试的路铺得更平了。静态参数上，它们能测MOSFET、IGBT以及碳化硅、氮化镓等器件的阈值电压、击穿电压，也可以做晶圆级漏电筛查和封装后的分选。动态参数上，设备可以搭配高速示波器，完成功率器件的动态特性评估。不仅如此，它们还兼容行业里主流的SMU指令集，这就让客户把新设备接入现有自动化测试平台时，不用大动干戈去改软件，升级成本自然降了下来。银飞电子表示，接下来会结合本地客户的实际情况，把DSU2000和SUP5000灵活嵌入半导体、新能源、光电器件等场景的测试方案里，让用户从研发到量产都能用上趁手的国产工具。

自主技术打底，陪国产仪器走得更稳
普源精电持续围绕自研芯片和精密测量技术做投入，这一点银飞看在眼里。从示波器、射频仪器到如今的精密源测量单元，产品拼图越来越完整。银飞电子科技认为，国产仪器不再只是“够用”，而是开始在一些对精度和稳定性要求苛刻的领域站住脚。这次SMU系列面世，让国产源测量方案直接切入了半导体研发、验证和量产测试这些高价值环节，对产业链上的用户和渠道伙伴来说，都是实打实的利好。银飞电子再次祝贺普源精电新品的面市。“好仪器要让更多工程师摸到、用上，这才是硬道理。”银飞团队已经做好样品到位后第一时间组织体验的准备，希望带着这批国产精密源测“新兵”，服务好半导体、新能源、先进制造等领域的朋友，让国产好枪在越来越多的实验室和产线上响起来。